智昇芯测半导体测试设备技术研讨会成功举办

九月，智昇芯测在北京、深圳、上海三地相继举办半导体测试设备技术研讨会。三场活动已圆满落幕。感谢每一位拨冗莅临的行业同仁，让这场跨越三城的芯测之约，有了热烈的回响。

三城接力，如约而至

9月9日北京·丽亭华苑国际酒店，9月11日深圳·益田威斯汀酒店，9月15日上海·长荣桂冠酒店，三城联动的三场研讨会半天议程，从产业趋势到测试方案，层层展开。

9月9日北京

9月11日深圳

9月15日上海

议程分享，干货满满

围绕半导体测试的前沿议题，来自智昇芯测与 Chroma 的专业团队带来了六场主题分享：

·半导体测试的未来展望

·3380 CRAFT软件测试能力增强及定制化服务

·从验证到量产：3680 复杂芯片测试的多场景应用与实践

·SmartRise AI应用发展

·3650-S2C - 更紧凑的设计，更全面的功率半导体测试能力

·无线通讯应用与测试方案

从先进 SoC 测试，到 AI 智能导入规划、再到功率半导体与射频测试方案，既有趋势洞察，也有可落地的技术参考与分享。

交流热烈，不负相遇

议程之间，我们安排了茶歇与现场交流。与会嘉宾与我们专业团队围绕测试效率、量产痛点、设备评估等话题面对面探讨，也收获了可落地的思路。

感谢同行，未来可期

一场研讨会的价值，不只在于台上的分享，更在于台下的连接。

感谢每一位到场的朋友，也感谢所有关注、支持智昇芯测的行业同仁。未来，智昇芯测将继续依托 Chroma ATE 成熟的技术平台，以"技术传承为基石，创新突破为动力"，持续深耕半导体测试领域，用精准测试护航每一颗芯片的品质之旅。

聚智芯生，测见未来。

期待与您下一次相聚。